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原位拉曼光譜儀是一種先進的分析技術，它結合了拉曼光譜和原位分析的優勢，能夠在不干擾或破壞樣品的情況下，實時監測化學反應或材料制備過程中的動態變化，從而支持新材料的研發和性能改進，優化生產工藝流程，提高生產效率。
ProSp-Micro40-LWR系列低波數顯微拉曼光譜儀，深度融合顯微鏡和光譜儀，在微米范圍內測量低于50cm-1（50波數）的拉曼光譜信號。
顯微拉曼光譜儀運用共聚焦技術，將激光束高度聚焦于微小的樣品區域，實現了對樣品表面的微區分析。高倍率顯微鏡帶來的高空間分辨率，讓研究人員能夠敏銳捕捉到樣品微觀結構與組成的細微變化。例如，在半導體材料研究中，能夠精準分辨納米級別的晶體缺陷與雜質分布，為提升半導體性能提供關鍵依據。?
顯微拉曼光譜測量系統點擊自動測量，則會在每一個位置上獲取一條光譜曲線（見圖左側區域）。根據不同的光譜模式，會得到不同的光譜數據，如反射光譜、拉曼光譜等
當前位置：
